Soumissionner.ch
AdjudicationFournituresProcédure ouverte

Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF

Messgeräte zur Charakterisierung von RF-Halbleiterdevices

  • AdjudicateurEPFL-Scientific Equipment
  • Lieu d'exécutionVaud
  • Publié le24.06.2026
  • Code CPV38000000 · Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)
  • DocumentsVoir l'avis officiel

Description du marché

Les extenseurs à faible puissance couvrant la gamme de 220 à 330 GHz (et au-delà) seront connectés à un système Keysight PNA (voir cahier des charges).

Adjudication

Entreprise retenueLieuPrix retenuDécision
Virginia Diodes, Inc.Charlottesville215'365 CHF24.06.2026
2 offres reçues
Ceci n'est pas une publication officielle. Les données publiées sur la plateforme www.simap.ch font foi. Avis n° 21384, repris de l'API publique de simap.ch sans modification; le dossier d'appel d'offres, les questions et le dépôt des offres se font sur simap.

Un service fiable, fait pour les entreprises romandes

Des données officielles, relues chaque heure, hébergées en Europe. Vous restez libre à tout moment.

Données officiellesAvis repris tels quels de l'API publique de simap.ch, avec le lien vers l'avis officiel.
À jour chaque heureNouveaux avis, rectificatifs et adjudications relevés toutes les heures, alerte à 8 h.
Hébergé en EuropeServeur en Allemagne, protection des données reconnue adéquate par la Confédération.
Sans engagementAlerte résiliable chaque mois en un clic, sans carte bancaire demandée à l'inscription.