- AdjudicateurEmpa zentraler Einkauf
- Lieu d'exécutionZurich, Dübendorf
- Publié le27.03.2026
- Code CPV38514200 · Microscopes à sonde à balayage
- DocumentsVoir l'avis officiel
Description du marché
The subject of this tender is a low-temperature (<3K), ultrahigh vacuum (UHV) scanning probe microscopy system with optical access to the scanned sample to pinpoint device structures in the sub-micrometer range to be investigated on the atomic level. The system provides state-of-the-art scanning tunneling microscopy (STM), spectroscopy (STS) and tuning fork based noncontact atomic force microscopy (nc-AFM), including UHV preparation chamber and load lock.
Adjudication
| Entreprise retenue | Lieu | Prix retenu | Décision |
|---|---|---|---|
| CreaTec Fischer & Co. GmbH, Erligheim/DE | Erligheim (ZH) | 808'590 CHF | 27.03.2026 2 offres reçues |
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